最新快充測(cè)試系統(tǒng)方案

1產(chǎn)品簡(jiǎn)介       ate自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備_ate電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

快充智能測(cè)試系統(tǒng)，是在原來(lái)基礎(chǔ)增加行業(yè)快充電源的QC2.0、QC3.0、PD、MTK一體式全面測(cè)試。這套測(cè)量系統(tǒng)不僅可以高效、快捷的幫助用戶完成測(cè)試功能，同時(shí)也為用戶提高產(chǎn)品品質(zhì)提供了有力保障。安拓森作為國(guó)內(nèi)異軍突起的測(cè)試測(cè)量廠商，將始終專注于測(cè)量，堅(jiān)持自主創(chuàng)新，為用戶提供更多創(chuàng)新的行業(yè)解決方案，真正體現(xiàn)客戶價(jià)值。該系統(tǒng)是一個(gè)主要用于充電器或直流電源進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試的系統(tǒng)，具有自動(dòng)化程度高、操作簡(jiǎn)單、界面友好、性能穩(wěn)定、測(cè)試準(zhǔn)確、速度較快等特點(diǎn)。

2測(cè)試項(xiàng)目

一、輸入端特性測(cè)試：

1、輸入電壓測(cè)試(Input voltage test)；

2、輸入有效值電流測(cè)試（Input RMS current test）；

3、輸入功率測(cè)試（Input power test)；

4、輸入功率因數(shù)測(cè)試（Input power factor test)；

二、輸出端特性測(cè)試：

1、輸出直流電壓測(cè)試（Output DC voltage test）；

2、輸出直流電流測(cè)試（Output DC current test）；

3、輸出直流功率測(cè)試（Output DC power test)；

4、電壓紋波測(cè)試(Peak-peak noise test)；

5、效率測(cè)試(Efficiency test)；

6、平均效率測(cè)試（CEC test）；

三、穩(wěn)定度測(cè)試：

1、輸入電源調(diào)整率測(cè)試(Input voltage regulation test)；

2、負(fù)載調(diào)整率測(cè)試(Load regulation test)；

3、綜合調(diào)整率測(cè)試(Combine regulation test)；

四、保護(hù)功能測(cè)試：

1、短路保護(hù)測(cè)試(Short circuit test)；

2、過(guò)電流保護(hù)測(cè)試(Over current protection test)；

五、特殊功能：

1、快充QC2.0/3.0/4.0，MTK,PD測(cè)試

2、D+、D-測(cè)試；

3、PASS、FAIL外接指示功能；

4、條形碼生成或讀取(Barcode scan)。

5、MES專屬定制功能

3快充測(cè)試原理

QC2.0主要是通過(guò)D+D-輸入對(duì)應(yīng)電壓，線長(zhǎng)阻抗大的時(shí)候，會(huì)導(dǎo)致升電壓失敗。為此自主開(kāi)發(fā)QC2.0測(cè)試快充協(xié)議板，內(nèi)置阻抗匹配電路，通道全隔離電路，可解決此異常的發(fā)生。

QC3.0主要是通過(guò)D+D-脈沖方式，一次200MV遞增、遞減，到所需測(cè)試電壓，控制時(shí)環(huán)境干擾過(guò)大會(huì)導(dǎo)致遞增、遞減錯(cuò)誤，還與行業(yè)中各個(gè)IC產(chǎn)商的微區(qū)別也會(huì)導(dǎo)致測(cè)試異常。

為此自主開(kāi)發(fā)QC3.0測(cè)試快充協(xié)議板，內(nèi)置抗干擾電路與通道隔離電路，兼容行業(yè)所有QC3.0的IC廠商協(xié)議，全面解決測(cè)試異常發(fā)生。

4PD測(cè)試原理

PD快充主要是通過(guò)CC信號(hào)腳，觸發(fā)切換輸出電壓，目前行業(yè)中各個(gè)IC產(chǎn)商的微區(qū)別會(huì)有測(cè)試方式區(qū)別，如OCP,短路后的復(fù)位電壓不固定，激活PD協(xié)議時(shí)電壓不同等。

為此經(jīng)多次實(shí)驗(yàn)分析確認(rèn)，研制PD全兼容測(cè)試快充協(xié)議板，內(nèi)置抗干擾電路與通道隔離電路，兼容行業(yè)所有QC3.0，QC2.0的IC廠商協(xié)議，全面解決測(cè)試異常發(fā)生。

5MTK協(xié)議

安拓森MTK標(biāo)配贈(zèng)送，兼容行業(yè)所有MTK協(xié)議且穩(wěn)定。

6D+D-測(cè)試

D+D-可快速檢測(cè)出不良品，正極到D-，D-到D+，D+到負(fù)極各點(diǎn)之間的電路。    ate自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備_ate電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)