開(kāi)關(guān)電源是一種將交流電源轉(zhuǎn)化成所需直流V/A/W規(guī)格的裝置。一個(gè)良好的電源必須可靠、符合所有功能規(guī)格、保護(hù)特性、安全規(guī)范及電磁兼容能力等。本文主要討論開(kāi)關(guān)電源的功能規(guī)格及保護(hù)特性的測(cè)試。

  
1 輸出電壓調(diào)整
    制造開(kāi)關(guān)電源時(shí)，第一個(gè)測(cè)試步驟為將輸出電壓調(diào)整至規(guī)格范圍。此步驟完成后才能確保后續(xù)的規(guī)格能夠符合。通常，做輸出電壓調(diào)整時(shí)，將輸入交流電壓設(shè)定為正常值（115Vac或230Vac），并且將輸出電流設(shè)定為正常值或滿載電流， 然后用數(shù)字電壓表測(cè)量電源的輸出電壓值并 調(diào)整其電位器（VR）直到電壓讀數(shù)在要求范圍內(nèi)。

2 電源調(diào)整

    電源調(diào)整率的定義為電源在輸入電壓變化時(shí)提供穩(wěn)定輸出電壓的能力。為精確測(cè)量電源調(diào)整率，需要下列的設(shè)備：
    A  能提供可變電壓能力的電源，至少能夠提供待測(cè)電源的最低到最高的輸入電壓范圍。
    B  一個(gè)均方跟值交流電壓表用來(lái)測(cè)量輸出電源電壓。
    C 一個(gè)靜密直流電壓表，具備至少高于待測(cè)物調(diào)整率十倍以上。
    D 連接到待測(cè)電源輸出端的可變負(fù)載。
    測(cè)試步驟如下：待測(cè)電源在正常輸入電壓和負(fù)載情況下熱機(jī)穩(wěn)定后，分別于Min(低)Nomal(通常)，和 Max(高)輸入并記錄其輸入電壓值，電源調(diào)整率。 通常在一正常之固定負(fù)載 （Nommal  Load）電壓下測(cè)量下，看其輸入電壓變化所造成電源 輸出電壓 偏差率（deviation）的百分比。

3 負(fù)載調(diào)整率
    負(fù)載調(diào)整率的定義為帶能源在輸出負(fù)載電流變化時(shí)，其提供穩(wěn)定輸出電壓的能力。所需的設(shè)備和連接方式與測(cè)電源調(diào)整率相似，唯一不同的是需要精密的電流表和待測(cè)帶能源的輸出串聯(lián)。
    測(cè)試步驟如下：待測(cè)電源在正常輸入電壓及負(fù)載情況下熱機(jī)穩(wěn)定后，測(cè)量正常負(fù)載下的輸出電壓值，再分別于低（Min）、高(Max)負(fù)載下，測(cè)量并記錄其輸出電壓值（分別為Vmax與Vmin）。負(fù)載調(diào)整率通常以正常的固定輸入電壓下，由負(fù)載電流變化所造成電源輸出電壓偏差率的百分比。

4 綜合調(diào)整率
    綜合調(diào)整率的定義為電源在輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化時(shí)，并提供穩(wěn)定電壓的能力。這是電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合，此項(xiàng)測(cè)試可提供對(duì)電源在改變輸入電壓與負(fù)載狀況下更正確的性能驗(yàn)證。

5 輸出雜音（PARD）
    輸出雜音（PARD）則是指在輸入電壓與輸出負(fù)載電流均不變的情況下，電源平均直流輸出電壓上的周期性與隨機(jī)性偏差量的電壓值。通常以mVp-p峰對(duì)峰值電壓來(lái)表示，一般的開(kāi)關(guān)電源的規(guī)格均于小于直流輸出電壓的1％為輸出雜音的規(guī)格，其頻寬為20Hz到50Hz。輸出雜音是表示在經(jīng)過(guò)穩(wěn)壓及濾波后的直流輸出電壓上所有不需要的交流及雜音部分，在測(cè)量輸出雜音時(shí)， 電流負(fù)載必須具備比待測(cè)電源更低的PARD值，同時(shí)測(cè)量電路必須有良好的隔離處理及阻抗匹配，為避免導(dǎo)線上產(chǎn)生不必要的振鈴和駐波，一般都采用雙通州電纜并以50Ω串在其端點(diǎn)上。

6 輸入功率與效率
    電源的輸入功率即一周期內(nèi)電源輸入電壓與電流乘積的積分值，需注意的是Watt≠Vrms×P.F為功率因素（Power  Factor）通常電源的功率因數(shù)在0.6-0.7左右，而大功率的電源具備功率因數(shù)校正器，其功率因數(shù)通常大于0.95，當(dāng)輸入電流波形與電壓波形 完全相同時(shí)，功率 因數(shù)為1，并依據(jù)電流與電壓波形不同的程度，其功率因數(shù)為14之間。 輸出直流功率的總和與輸入功率的比例。通常計(jì)算機(jī)用電源的效率為 60-70％左右。效率可提供對(duì)電源正確工作的驗(yàn)證，若效率超過(guò)規(guī)定范圍。即表示設(shè)計(jì)或零件材料上有問(wèn)題出現(xiàn)，效率太低時(shí)，會(huì)導(dǎo)致散熱 增加而影響電源使用壽命。 測(cè)試時(shí)可使用4010/4011來(lái)測(cè)量待測(cè)電源的輸入功率與功率因數(shù)；使用3310/3320系列負(fù)載模擬并測(cè)量其每個(gè)輸出電壓、電流與功率經(jīng)過(guò)計(jì)算后邊可得到效率。當(dāng)使用3600A 時(shí)，能夠測(cè)量輸入及輸出功率并自動(dòng)計(jì)算出效率，并可設(shè)定上下限，做為合格與否的判別。

7 動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載
    一個(gè)定電壓輸出的電源，在設(shè)計(jì)中應(yīng)具備反饋回路，能夠?qū)⑵潆妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由于實(shí)際上反饋回路有一定的頻寬， 因此限制了電源對(duì)負(fù)載電流變化時(shí)的反應(yīng)。若反饋回路輸入與輸出的相移在增益（UNITYGAIN）為一時(shí) 因此限制了電源對(duì)負(fù)載電流變化時(shí)的反應(yīng)。若反饋回路輸入與輸出的相移在增益（UNITYGAIN）為一時(shí) 因此限制了電源對(duì)負(fù)載電流變化時(shí)的反應(yīng)。若反饋回路輸入與輸出的相移在增益（UNITYGAIN）為一時(shí) 超過(guò)180度，電源便會(huì)呈現(xiàn)不穩(wěn)定、 失控及振蕩現(xiàn)象。實(shí)際工作時(shí)的負(fù)載電流也是動(dòng)態(tài)變化的而不是始終維持不變（例如硬盤(pán)、軟驅(qū)、CPU或RAM動(dòng)作等），因此動(dòng)態(tài)負(fù)載測(cè)試對(duì)電源而言是極為重要的。電子負(fù)載可用來(lái)模擬電源實(shí)現(xiàn)工作時(shí)的最?lèi)毫拥呢?fù)載情況，如負(fù)載電流迅速上升、下降的斜率、周期等。若電源在惡劣負(fù)載狀況下，仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過(guò)高（OVERSHOOT）或過(guò)低（UNDERSHOOT）情形，則通過(guò)此項(xiàng)測(cè)試。

8 電源良好/實(shí)效信號(hào)
    電源良好信號(hào)，簡(jiǎn)稱(chēng)PGS（POWERGOOD  SINGNAL）,是電源送往計(jì)算系統(tǒng)的信號(hào)，當(dāng)電源輸出電壓穩(wěn)定后，通知計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，以便做開(kāi)機(jī)程序。而電源實(shí)效信號(hào)（POWER  FALL）是電源表示輸出電壓尚未達(dá)到或超過(guò)某一正常工作情況.以上經(jīng)常由PGS信號(hào)來(lái)表示，由邏輯的改變來(lái)表示，邏輯為“1”或“High”時(shí)表示電源良好（POWER  GOOD），而邏輯為“0”或“ Low” 時(shí)，表示為電源實(shí)效（Power  Faill）.電源的電源良好時(shí)間為從輸出電壓穩(wěn)定 到PGS信號(hào)由“0”變?yōu)?span>“1”的時(shí)間，一般值為100ms到200ms之間，電源的電源實(shí)效時(shí)間為從PUS信號(hào)由“1”變?yōu)?span>“0”時(shí)到輸出電壓低于穩(wěn)定范圍的時(shí)間，一般值為1ms以上。

9 啟動(dòng)時(shí)間（SET-UP  TIME）與保持時(shí)間（HOLD-UP  TIME）
    啟動(dòng)時(shí)間為電源從輸入接上電源起到電源輸出電壓，上升到穩(wěn)定范圍內(nèi)為止的時(shí)間，以一輸出為5V的電源為例。啟動(dòng)時(shí)間為從開(kāi)機(jī)起到輸出電壓達(dá)到4.75V為止的時(shí)間保持時(shí)間為電源從輸入切斷電源起到電源輸出電壓下降到穩(wěn)定范圍外為止的時(shí)間,以一輸出為5V的電源為例，保持時(shí)間為從關(guān)機(jī)起到輸出電壓低于4.75萬(wàn)V為止的時(shí)間，一般值為17ms以上。